PCT高压加速寿命老化试验箱和HAST高压加速寿命老化试验箱主要用于测试半导体封装的吸湿能力。当被测产品在恶劣的温度、湿度和压力下进行测试时，水分会沿着胶体或胶体与引线框架的界面渗入封装。广泛应用于EVA胶水、TPT薄膜、光伏玻璃、PCB电路板、多层电路板、ic半导体、LCD光学器件、电子元器件。测试塑料包装设备/材料、磁铁/磁性材料等的密封性能。、测试耐压、气密性、失重试验、饱和稳态湿热试验、加速老化筛选试验、光伏组件高可靠性和寿命加速试验。

随着工业化对器件可靠性的要求越来越高，目前大部分器件能够经受长时间THB(双85，双95)测试而不失效，因此用于判定成品质量的测试时间也相应增加。为了提高测试效率，减少测试时间，采用了新的PCT和USPCT(HAST)。现在高压加速寿命老化试验箱试验被IEC(国际电工委员会)标准化为湿热加速试验。注意:USPCT现在叫做HAST(高加速压力测试)。经过长期客户跟踪对比，121°C/1kg/cm2/%测试1小时相当于双85、双95测试250小时左右。

常见的失效模式有有源金属化区域腐蚀导致的开路，或污染导致的封装引脚间短路等。

加速寿命试验的目的是增加环境应力(如温度)和工作应力(如施加在产品上的电压和负载)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

那么PCT高电压加速寿命老化试验箱和HAST高电压加速寿命老化试验箱有什么区别呢？为方便客户选择，中天仪器做如下简单描述，希望能帮助客户选择:

PCT加速寿命老化试验箱的主要作用是:压力是温度对应的饱和压力显示，湿度也是温度对应的饱和蒸汽压力。也就是说，测试温度是随着用户的测试条件确定的，饱和蒸汽压力和饱和蒸汽湿度也是确定的。温度对应的饱和蒸汽压力有对应关系。请参考下表对应关系:

温度和压力对照表(压力为表压，即产品的实际测试压力)

HAST高压加速寿命老化试验箱的主要作用是:温度、压力、湿度可以随用户的试验条件任意设定，不受饱和蒸汽压力和饱和蒸汽湿度的影响，即不饱和控制。也就是说，可以根据用户的测试条件任意设置测试温度、压力和湿度。这时就会出现一个问题:非饱和状态下湿度的准确性。中天仪器使用的湿度检测装置是通过干湿球对比，根据试验箱内的真实环境来显示和控制的，不是通过换算关系来显示和控制的，所以其准确性是有保证的。